Identyfikatory autora w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9262-7326

Profile autora w systemach zewnętrznych

Strona autora w IFJ-PAN

Publikacje autora

Filtruj publikacje według

Sortowanie publikacji

Rok publikacji
Typ publikacji
Podtyp publikacji
Wydawca
Konferencja
Punktacja ministerialna
Impact Factor
Otwarty dostęp
Język publikacji
(0/1)
proceedings
#316Rok dodania: 2025
Patterns that Break Memory: SEU Characterization of COTS LPDDR2 and LPDDR4 SDRAM via Stress Testing Under 60 MeV Proton Beam / Memon Saad, Graczyk Rafal, Rajkowski Tomasz, Swakoń Jan, Papadakis Mike // [w:] Proceedings: 2025 25th International Conference on Software Quality, Reliability and Security QRS 2025 // Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). — 2025, s. 462-472 — ISBN. 9781665477710, DOI 10.23919/MIXDES66264.2025.11092266.