Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Patterns that Break Memory: SEU Characterization of COTS LPDDR2 and LPDDR4 SDRAM via Stress Testing Under 60 MeV Proton Beam / Memon Saad, Graczyk Rafal, Rajkowski Tomasz, Swakoń Jan, Papadakis Mike // [w:] Proceedings: 2025 25th International Conference on Software Quality, Reliability and Security QRS 2025 // Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). — 2025, s. 462-472 — ISBN. 9781665477710, DOI 10.23919/MIXDES66264.2025.11092266.
Autorzy (5)
- Memon Saad
- Graczyk Rafal
- Rajkowski Tomasz
- IFJSwakoń Jan
- Papadakis Mike
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 316 |
|---|---|
| Typ publikacji | materiały konferencyjne |
| Podtyp publikacji | proceedings |
| Rok publikacji | 2025 |
| Otwarty dostęp |  |
Informacje o źródle
| Konferencja | Hawaii International Conference on System Sciences |
|---|---|
| Edycja | 54th Annual Hawaii International Conference on System Sciences 2021 |
| Wydawca | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Punktacja ministerialna (Wydawca) | 80 |
| Strony lub numer artykułu | 462-472 |
| ISBN | 9781665477710 |
Bazy zewnętrzne
| DOI | 10.23919/MIXDES66264.2025.11092266 |
|---|---|
| URL publikacji | URL |
